基于變體的并發(fā)程序測(cè)試技術(shù)研究.pdf

1、可達(dá)性測(cè)試是一種重要的并發(fā)程序測(cè)試方法，具有在給定輸入下生成并執(zhí)行所有可行同步序列且無(wú)需記錄任何歷史信息等諸多優(yōu)勢(shì)。但現(xiàn)有可達(dá)性測(cè)試仍面臨所生成的測(cè)試用例集不夠充分，不能有效探測(cè)并發(fā)程序中同步錯(cuò)誤等問(wèn)題。為提高探測(cè)同步錯(cuò)誤能力，本文提出一種基于拆分的可達(dá)性測(cè)試方法。該方法對(duì)相關(guān)代碼進(jìn)行拆分，通過(guò)生成細(xì)粒度的同步交織序列，達(dá)到暴露并發(fā)程序中同步錯(cuò)誤的目的。本文采用程序切片等靜態(tài)分析技術(shù)分析相關(guān)代碼，并提取相關(guān)代碼中的共享變量以及條件同步等

2、信息，在此基礎(chǔ)上提出拆分點(diǎn)選取方法以及拆分點(diǎn)排序方法。
　　本文設(shè)計(jì)并實(shí)現(xiàn)了基于拆分的并發(fā)程序可達(dá)性測(cè)試工具（SplitRichTest），并通過(guò)實(shí)驗(yàn)與原可達(dá)性測(cè)試工具(RichTest)以及基于錯(cuò)誤模式的并發(fā)錯(cuò)誤預(yù)測(cè)工具(Pecan)進(jìn)行比較，并發(fā)程序中的同步錯(cuò)誤通過(guò)引入并發(fā)變異算子生成一組并發(fā)變體來(lái)模擬。實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明:(1)SplitRichTest能夠有效解決傳統(tǒng)可達(dá)性測(cè)試不能有效探測(cè)并發(fā)變體類同步錯(cuò)誤的問(wèn)題，Pecan的同