自旋閥結構多層膜的熱穩(wěn)定性研究.pdf_第1頁
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文檔簡介

1、基于多層膜巨磁電阻材料的磁阻傳感器現已得到廣泛應用，特別是以自旋閥結構多層膜為代表的磁性多層膜已成功應用于計算機硬盤的讀寫磁頭，但其可靠性和使用壽命受到了交換偏置雙層膜及多層膜的熱穩(wěn)定性的制約。國內外眾多學者針對交換偏置雙層膜的熱穩(wěn)定性開展了卓有成效的研究工作，但均未涉及到自旋閥結構多層膜的熱穩(wěn)定性研究。為了更好地利用自旋閥結構多層膜的優(yōu)異特性，本文開展了對其熱穩(wěn)定性的研究。
　　 本文采用磁控濺射法制備了結構為//Seed T

2、a / Co75Fe25 / Cu / Co75Fe25 / Ir20Mn80 / Cap Ta的多層膜。通過VSM、XRD等測試分析手段研究了負飽和場等待和溫度對自旋閥結構多層膜的磁性能的影響，進而研究了自旋閥的熱弛豫，其中著重分析了影響其熱穩(wěn)定性的主要因素及機理。
　　 研究結果表明：隨著在負飽和場中等待時間的增加，在被釘扎層中出現了時間效應。交換偏置場Hex和被釘扎層的矯頑力Hcp隨溫度升高而單調減??；自由層的矯頑力先隨溫

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