電子散斑干涉檢測技術的研究.pdf

1、電子散斑干涉技術簡稱ESPI（Electronic Speckle Pattern Interferometry），是以激光技術、視頻技術、計算機圖象處理技術、全息干涉和散斑干涉技術等相結合的一種現(xiàn)代光學測量技術，被廣泛應用于無損檢測（NDT），光學粗糙表面位移，變形測量，振動分析等領域。 本文闡述了散斑干涉計量技術的發(fā)展概況及ESPI在無損檢測方面的應用，分析了散斑成因和散斑測量的基本理論，并重點介紹了本文中所運用的參考光束型

2、ESPI檢測系統(tǒng)組成。 針對散斑干涉條紋圖充滿大量噪聲的特性，本文研究了基于去噪算法的ESPI條紋骨架提取，干涉條紋經(jīng)過濾波去噪、二值化、細化、擬合等處理以后，可得到滿意的條紋骨架線。并采用搭建的ESPI系統(tǒng)對試件離面位移進行了實驗測量，經(jīng)過圖像、數(shù)據(jù)處理后可實現(xiàn)試件位移的三維重構。 在工業(yè)環(huán)境測試現(xiàn)場，會有很多引起ESPI不穩(wěn)定的干擾，雙脈沖ESPI用減少曝光時間和間隔來提高穩(wěn)定性，但由于條紋圖的生成方式是相加模式，條