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1、隨著集成電路規(guī)模和復(fù)雜度的提高,驗(yàn)證的工作量以指數(shù)形式增加。功能驗(yàn)證作為保證集成電路功能正確的重要環(huán)節(jié),面臨著重大挑戰(zhàn),需要新的驗(yàn)證技術(shù)來(lái)提高驗(yàn)證能力。基于SystemVerilog語(yǔ)言的UVM驗(yàn)證方法學(xué)可以提高驗(yàn)證效率。
SystemVerilog語(yǔ)言的驗(yàn)證方面特性,可以提高驗(yàn)證平臺(tái)的抽象層次和復(fù)用性,滿足驗(yàn)證對(duì)于語(yǔ)言功能的需求。本文對(duì)UVM的驗(yàn)證架構(gòu)以及主要組件UVC的分類(lèi),結(jié)構(gòu),功能進(jìn)行研究。同時(shí),分析了 UVM標(biāo)準(zhǔn)類(lèi)庫(kù)
2、中各基類(lèi)的繼承關(guān)系。UVM方法學(xué)利用SystemVerilog語(yǔ)言構(gòu)建的標(biāo)準(zhǔn)類(lèi)庫(kù)充分發(fā)揮了語(yǔ)言的驗(yàn)證能力。
本文的驗(yàn)證對(duì)象是一款RFID非接觸卡,如何利用UVM的思想方法,搭建出RFID卡的系統(tǒng)級(jí)驗(yàn)證環(huán)境,提高驗(yàn)證效率,是本文的研究核心。本文對(duì)RFID卡功能和協(xié)議進(jìn)行了討論,并分解出測(cè)試點(diǎn)。根據(jù)UVM思想,規(guī)劃RFID卡的驗(yàn)證平臺(tái),并對(duì)各組件的功能實(shí)現(xiàn)方法進(jìn)行了研究。序列庫(kù)和用例庫(kù)的建立,驅(qū)動(dòng)器和監(jiān)視器的功能實(shí)現(xiàn),參考模型算法
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