SCB點火技術(shù)中等離子體的電子密度的測量.pdf_第1頁
已閱讀1頁,還剩58頁未讀 繼續(xù)免費閱讀

下載本文檔

版權(quán)說明:本文檔由用戶提供并上傳,收益歸屬內(nèi)容提供方,若內(nèi)容存在侵權(quán),請進(jìn)行舉報或認(rèn)領(lǐng)

文檔簡介

1、本論文對半導(dǎo)體橋(SCB)點火技術(shù)中等離子體的電子密度,進(jìn)行了深入系統(tǒng)的研究,采用三個不同的測試方法,分別測量了SCB等離子體的電子密度,并討論了測試環(huán)境對測定結(jié)果的影響。具體研究如下: (1)利用Acton Spectrapro.2750型雙光柵光譜儀,在局部熱力學(xué)平衡條件下,用Al I 394.40nm譜線Stark展寬法,測量了SCB等離子體的電子密度,電子密度的變化范圍為4.32×10<'16>cm<'-3>-0.89×

2、10<'16>cm<'-3>,并得到了電子密度隨時間的變化規(guī)律; (2)利用Saha方程法理論,根據(jù)在SCB等離子體發(fā)射光譜研究中發(fā)現(xiàn)的譜線Si I 390.55nm和Si Ⅱ 413.09nm,設(shè)計并完成了Saha方程法測量系統(tǒng)。系統(tǒng)的時間分辨率達(dá)到0.1μs,解決了國內(nèi)現(xiàn)有的多通道光學(xué)分析儀(OMA)測量SCB等離子體的電子密度時,時間分辨率不夠的問題; (3)利用Saha方程法測量系統(tǒng),在不同的能量輸入下,對兩種不

3、同的SCB(陶瓷塞和塑料塞)產(chǎn)生的等離子體的電子密度,進(jìn)行了測試和討論。該系統(tǒng)測量的電子密度與A1 I 394.40nm譜線Stark展寬法的結(jié)果在同一數(shù)量級上,均為10<'15>cm-10<'16>cm<'-3>,并且變化規(guī)律相同,實現(xiàn)了兩種測量方法的相互驗證; (4)在不同能量輸入下,利用壓力傳感器(CY-YD-205)測量了陶瓷塞SCB在一定體積密閉容器內(nèi)產(chǎn)生的壓力;推導(dǎo)了適合SCB等離子體的壓力方程,并建立了壓力和電子密

溫馨提示

  • 1. 本站所有資源如無特殊說明,都需要本地電腦安裝OFFICE2007和PDF閱讀器。圖紙軟件為CAD,CAXA,PROE,UG,SolidWorks等.壓縮文件請下載最新的WinRAR軟件解壓。
  • 2. 本站的文檔不包含任何第三方提供的附件圖紙等,如果需要附件,請聯(lián)系上傳者。文件的所有權(quán)益歸上傳用戶所有。
  • 3. 本站RAR壓縮包中若帶圖紙,網(wǎng)頁內(nèi)容里面會有圖紙預(yù)覽,若沒有圖紙預(yù)覽就沒有圖紙。
  • 4. 未經(jīng)權(quán)益所有人同意不得將文件中的內(nèi)容挪作商業(yè)或盈利用途。
  • 5. 眾賞文庫僅提供信息存儲空間,僅對用戶上傳內(nèi)容的表現(xiàn)方式做保護(hù)處理,對用戶上傳分享的文檔內(nèi)容本身不做任何修改或編輯,并不能對任何下載內(nèi)容負(fù)責(zé)。
  • 6. 下載文件中如有侵權(quán)或不適當(dāng)內(nèi)容,請與我們聯(lián)系,我們立即糾正。
  • 7. 本站不保證下載資源的準(zhǔn)確性、安全性和完整性, 同時也不承擔(dān)用戶因使用這些下載資源對自己和他人造成任何形式的傷害或損失。

評論

0/150

提交評論