基于LXI的多功能電參量測試儀的研究.pdf_第1頁
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文檔簡介

1、隨著工業(yè)生產(chǎn)技術(shù)的不斷進步，對工業(yè)生產(chǎn)中各類測試儀器的要求也不斷提高，現(xiàn)場測試從人工手動測試向自動化測試發(fā)展，從本地測試向遠程測試發(fā)展。LXI總線技術(shù)是適應(yīng)這種測試模式轉(zhuǎn)變的一種新的測試總線技術(shù)。因此，如何實現(xiàn)多功能電參量測試儀的LXI總線接口設(shè)計已經(jīng)成為目前亟待解決的問題。
　　本文首先介紹了測試儀器的發(fā)展歷程以及未來的發(fā)展趨勢。同時，介紹了LXI總線的發(fā)展歷程。根據(jù)LXI總線標準的相關(guān)規(guī)定，給出了多功能電參量測試儀的LXI接口

2、的硬件設(shè)計方案;研究了電磁干擾中常見的三種瞬態(tài)干擾，給出了基于LXI總線的多功能電參量測試儀的抗電磁干擾防護電路。
　　其次，在軟件設(shè)計方面，研究了可程控儀器國際標準命令SCPI，設(shè)計了多功能電參量測試儀的SCPI命令集;通過分析SCPI命令的多種解析方法，提出了適用于單片機的SCPI命令解析方法，實現(xiàn)了測試儀SCPI命令的快速解析。利用標準功率源FLUKE5500A對開發(fā)的多功能電參量測試儀進行了技術(shù)指標的測試，通過計算機進行了

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